光催化氧化反應(yīng)器,光化學反應(yīng)儀設(shè)計綜述?
光化學反應(yīng)儀主要用于研究氣相或液相介質(zhì)、固定或流動體系、紫外光或模擬可見光照、以及反應(yīng)容器是否負載TiO2光催化劑等條件下的光化學反應(yīng)。具有提供分析反應(yīng)產(chǎn)物和自由基的樣品,測定反應(yīng)動力學常數(shù),測定量子產(chǎn)率等功能,廣泛應(yīng)用化學合成、環(huán)境保護以及生命科學等研究領(lǐng)域
光化學、干膜、曝光及顯影制程術(shù)語手冊1、Absorption 領(lǐng)受,吸入
指被領(lǐng)受物會進入主體的內(nèi)部,是一種化學式的吸入步履。如光化反映中的光能領(lǐng)受,或板材與綠漆對溶劑的吸入等。還有一近似詞 Adsorption 則是指吸附而言,只附著在主體的概略,是一種物理式的親和吸附。
2、Actinic Light(or Intensity,or Radiation) 有用光
指用以完成光化反映各類光線中,其zui有用波長規(guī)模的光而言。例如在360~420 nm 波長規(guī)模的光,對偶氮棕片、淺顯吵嘴底片及重鉻酸鹽感光膜等,其等反映均zui快zui*且功用zui大,謂之有用光。
3、Acutance 解像尖銳度
是指各類由感光編制所取得的圖像,其線條邊緣的尖銳景象抽象 (Sharpness),此與解像度 Resolution 不合。后者是指在必定寬度距離中,可以了了的顯像(Develope)解出若干良多多少組“線對"而言(Line Pair,系指一條線路及一個空間的組合),普簡易稱只說解出機條“線"而已。
4、Adhesion Promotor 附出力增進劑
多指干膜中所添加的某些化學品,能促使其與銅面發(fā)生“化學鍵",而增進其與底材間之附出力者皆謂之。
5、Binder 粘結(jié)劑
各類積層板中的接著樹脂部份,或干膜之阻劑中,所添加用以“成形"而不致太“散"的接著及組成劑類。
6、Blur Edge(Circle)恍惚邊帶,恍惚邊圈
多層板各內(nèi)層孔環(huán)與孔位之間在做瞄準度搜檢時,可把持 X光透視法為之。由于X光之光源與其機組均非平行光之機關(guān),故所得圓墊(Pad)之減少回憶,其邊緣之解像其實不明銳了了,稱為 Blur Edge。
7、Break Point 出像點,顯像點
指制程中已有干膜貼附的“在制板",于自動保送線顯像室上下噴液中遏制顯像時,抵達其完成沖洗而閃現(xiàn)出了了圖形的“旅程點",謂之“Break Point"。所經(jīng)歷過的沖洗旅程,以占顯像室長度的 50~75% 之間為好,如斯可以使剩下旅途中的清水沖洗,更能增強斷根殘膜的成果。
8、Carbon Arc Lamp 碳弧燈
晚期電路板底片的翻制或版膜的分娩時,為其曝光所用的光源之一,是在中心迫近的碳精棒之間,施加高電壓而發(fā)生弧光的拆卸。
9、Clean Room 無塵室、潔凈室
是一個遭到賣力經(jīng)管及精采把握的房間,其溫度、濕度、壓力都可加以調(diào)劑,且氣氛中的塵埃及臭氣已予以消弭,為半導(dǎo)體及細線電路板分娩制造必需的景象抽象。淺顯“潔凈度"的表達,是以每“立方呎"的氣氛中,含有大于0.5μm以上的塵粒數(shù)目,做為分級的尺度,又為儉仆成本起見,常只在使命臺面上設(shè)置部門無塵的景象抽象,以嘗試必需的使命,稱 Clean Benches。
光催化氧化反應(yīng)器,光化學反應(yīng)儀設(shè)計綜述
10、Collimated Light 平行光
以感光法遏制回憶轉(zhuǎn)移時,為添加底片與板面間,在圖案上的變形走樣起見,應(yīng)采納平行光遏制曝光制程。這類平行光是經(jīng)由屢次反射折射,而取得低熱量且近似平行的光源,稱為Collimated Light,為細線路建筑必需的裝備。由于垂直于板面的平行光,對板面或景象抽象中的少許塵埃都很是緩慢,常會忠誠的暗示在所曬出的回憶上,構(gòu)成許多額定的漏洞錯誤,反不如淺顯散射或漫射光源可以也許自彼此補而消彌,故采納平行光時,必需還要無塵室的合營才行。此時底片與待曝光的板面之間,已無需再做抽真空的密接(Close Contact),而可間接使用較嚴重的 Soft Contact或Off Contact了。
11、Conformity吻合性,服貼性
完成零件壞配的板子, 為使整片板子外形遭到賣力的呵護起見,再以絕緣性的涂料予以封護涂裝,使有更好的信賴性。淺顯較高條理的拆卸板,才會用到這類外形貼護層。
12、Declination Angle 斜射角
由光源所間接射下的光線,或經(jīng)各類折射反射過程后,再行射下的光線中,凡閃現(xiàn)不垂直射在受光面上,而與“垂直法線"呈某一斜角者(即圖中之 a角)該斜角即稱 Declination Angle。當此斜光打在干膜阻劑邊緣所組成的“小孔相機"并經(jīng) Mylar 折光下,會泛起另外一“平行光"之半角(Collimation HalfAngle,CHA)。但凡“細線路"曝光所邃密精彩的“高平行度"的曝光機時,其所呈的“斜射角"應(yīng)小于 1.5 度,其“平行半角"也須小于 1.5 度。
13、Definition 邊緣傳神度
在以感光法或印刷法遏制圖形或回憶轉(zhuǎn)移時,所取得的下一代圖案,其線路或各導(dǎo)體的邊緣,是不是能泛起齊直而又忠于原底片之外形,稱為“邊緣齊直性"或傳神度“Definition"。
14、Densitomer 透光度計
是一種對吵嘴底片之透光度(Dmin)或遮光度(Dmax)遏制丈量之儀器,以搜檢該底片之劣化水平若何。其經(jīng)常使用的品牌如 X-Rite 369 等于。
15、Developer 顯像液,顯影液,顯像機
用以沖洗掉未感光聚合的膜層,而留下已感光聚合的阻劑層圖案,其所用的化學品溶液稱為顯像液,如干膜制程所用的碳酸鈉(1%)溶液等于。
16、Developing 顯像,顯影
是指感光回憶轉(zhuǎn)移過程中,由母片翻制子片時稱為顯影。但對下一代像片或干膜圖案的閃現(xiàn)作業(yè),則應(yīng)稱為“顯像"。既然是由底片上的“影"轉(zhuǎn)移成為板面的“像",雖然就該當稱為“顯像",而不宜再續(xù)稱底片階段的“顯影",這是淺而易見的事理??墒菢I(yè)界積非成是習用已久,一時興不茍且更正。日文則稱此為“現(xiàn)像"。
17、Diazo Film 偶氮棕片
是一種有棕色阻光膜的底片,為干膜回憶轉(zhuǎn)移時,在紫外光中公用的曝光用具(Phototool)。這類偶氮片即使在棕色的遮光區(qū),也能在“可見光"中透視現(xiàn)實片下的板面景象抽象,比吵嘴底片要便當?shù)亩唷?/p>
18、Dry Film 干膜
是一種做為電路板回憶轉(zhuǎn)移用的干性感光薄膜阻劑,還有 PE 及 PET 兩層皮膜將之夾心呵護。現(xiàn)場施工時可將 PE 的隔離層撕掉,讓中心的感光阻劑膜壓貼在板子的銅面上,在經(jīng)由底片感光后即可再撕掉 PET 的表護膜,遏制沖洗顯像而組成線路圖形的部門阻劑,進而可再嘗試蝕刻(內(nèi)層)或電鍍(外層)制程,zui初在蝕銅及剝膜后,即取得有裸銅線路的板面。
19、Emulsion Side藥膜面
吵嘴底片或 Diazo 棕色底片,在 Mylar 通明片基 ( 經(jīng)常使用者有 4 mil 與7 mil 兩種)的一個概略上涂有極薄的感光乳膠(Emulsion) 層,做為回憶轉(zhuǎn)移的前言對象。當從已有圖案的母片要翻照出“光極性"相反的子片時,必需謹遵“藥面貼藥面" ( Emulsion to Emulsion ) 的基來歷根抵則,以消弭因片基厚度而泛起的折光,添加更生畫面的變形走樣。
20、Exposure 曝光
把持紫外線(UV)的能量,使干膜或印墨中的光敏物資遏制光化學反映,以抵達遴選性部門架橋軟化的成果,完成回憶轉(zhuǎn)移的手段稱為曝光。
21、Foot 殘足
指干膜在顯像今后部份決計留下阻劑,其根部與銅面接觸的死角處,在顯像時不茍且沖洗干凈而殘留的余角(Fillet),稱為Foot或Cove。當干膜太厚或曝光能量貧乏時,常會泛起殘足,將對線寬構(gòu)成影響。
22、Halation環(huán)暈
指曝光制程中領(lǐng)受光照之圖案概略,其外緣常組成明暗之間的環(huán)暈。成因是光線穿過半通明之被照體而抵達另外一面,受反射折光回到背面來,即泛起混沌不清的邊緣地帶。
光催化氧化反應(yīng)器,光化學反應(yīng)儀設(shè)計綜述
23、Half Angle 半角
此詞的正式稱號是 Collimation Half Angle“平行光半角"。 是指曝光機所射下的“斜光",抵達底片上回憶圖案的邊緣,由此“邊緣"所發(fā)生“小孔拍照機"效應(yīng),而將“斜光"擴大成“發(fā)散光"其擴大角度的一半,謂之“平行光半角"(CHA),簡稱“半角"。
24、Holding Time 停置時辰
當干膜在板子銅面上完成壓膜步履后,需停置 15~30 分鐘,使膜層與銅面之間發(fā)生更強的附出力;而經(jīng)曝光后也要再停置 15~30 分鐘,讓已感光的部份膜體,延續(xù)遏制*的架橋聚合反映,以便耐得住顯像液的沖洗,此兩者皆謂之“停置時辰"。
25、Illuminance 照度
指照耀到物體概略的全部“光能量"而言。
26、Image Transfer 回憶轉(zhuǎn)移,圖像轉(zhuǎn)移
在電路板工業(yè)中是指將底片上的線路圖形,以“間接光阻"的編制或“間接印刷"的編制轉(zhuǎn)移到板面上,使板子成為零件的互連配線及拆卸的載體,而得以闡揚功用?;貞涋D(zhuǎn)移是電路板制程中首要的一站。
27、Laminator 壓膜機
當阻劑干膜或防焊干膜以熱壓編制貼附在板子銅面上時,所使用的加熱輾壓式壓膜機,稱之 Laminator。
28、Light Integrator 光能堆集器、光能積分器
是在某一時段內(nèi),對物體概略合計其總共所取得光能量的一種儀器。此儀器中含濾光器,可用以除去淺顯待測波長之外的光線。當此儀另與計時器合營后,可合計物體概略在按時中所領(lǐng)遭到的總能量。淺顯干膜曝光機中都加裝有這類“積分器",使曝光作業(yè)加倍切確。
29、Light Intensity 光強度
單元時辰內(nèi)(秒)抵達物體概略的光能量謂之“光強度"。其單元為 Watt/cm2,延續(xù)一時段中所累計者即為合計光能量,其單元為 Joule(Watt?Sec)。
30、Luminance 發(fā)光強度,耀度
指由發(fā)光物體概略所發(fā)出或某些物體所反射出的光通量而言。近似的字詞尚有“光能量"Luminous Energy。
31、Negative-Acting Resist 負性傳染激動之阻劑,負型阻劑
是指感光后能發(fā)生聚合反映的化學物資,以其所配制的濕膜或干膜,經(jīng)曝光、顯像后,可將未感光未聚合的皮膜洗掉,而只在板面上留下已聚合的阻劑圖形,的原始圖案相反,這類感光阻劑稱之為“負性傳染激動阻劑",也稱為Negative Working Resist。反之,能發(fā)生感光分化反映,板面的阻劑圖案與底片*不異者,則稱為 Positive Acting Resis 。電路板因解像度(Resolution,陸地用語為“分辯率")的要求不高,但凡采納“負性傳染激動"的阻劑即可,且也較。至于半導(dǎo)體IC、混成電路(Hybrid)、液晶線路(LCD)等則采解像度的“正型"阻劑,的其代價也很是貴。
32、Mercury Vaper Lamp 汞氣燈
是一種不延續(xù)光譜的光源,其首要的四五個強峰位置,是調(diào)集在波長 365~560nm 之間。其當光源強度之揭露與能量的施加,在時辰上會稍有后進。且光源熄滅后若需再封鎖時,還需求經(jīng)由一段冷卻的時辰。是以這類光源一旦策動后就要延續(xù)使用,不宜開開關(guān)關(guān)。在不用時可采“光柵"的編制做為阻斷把握,避免開關(guān)次數(shù)太多而損及光源的壽命。
33、Newton Ring 牛頓環(huán)
當光線經(jīng)由過程不合密度的介質(zhì),而其間的距離(Gap,例如氣氛)又極薄時,則入射光會與此極薄的氣氛間隙發(fā)生傳染激動,而泛起五彩狀齊心圓的環(huán)狀現(xiàn)象,由因此牛頓所察覺的故稱為“牛頓環(huán)"。干膜之曝光因系在“不*平行"或散射光源下遏制的,為添加母片與子片間因光線斜射而構(gòu)成失真或不忠誠現(xiàn)象,故必需將兩者之間的間距盡可以或許予以增添,即在抽真空下密接(Close Contact),使完成藥面接藥面(Imulsion Side to Imulsion Side)之緊貼,以抵達的回憶轉(zhuǎn)移。凡當兩者之間尚有殘剩氣氛時,即暗示抽真空水平貧乏。此種未密接之回憶,必定會發(fā)生曝光不良而激發(fā)的解像劣化,乃至沒法解像的景象抽象。而此殘剩氣氛所閃現(xiàn)的牛頓環(huán),若用手指去壓擠時還會泛起移動現(xiàn)象,成為一種真空水平是不是精采的方針。為了更便當搜檢牛頓環(huán)是不是仍能移動之景象抽象,在曝光臺面上方裝設(shè)一支黃色的燈光,以便于隨時搜檢是不是仍有牛頓環(huán)的具有。上法可以讓守舊非平行光型的曝光機,也能揭顯露zui精采曝光的才調(diào)。
34、Oligomer 寡聚物
原本意義是指介于已完成聚合的高份子,與原單體之間的“半制品",電路板所用的干膜中即布滿了這類寡聚物。底片“明區(qū)"部份所“據(jù)有"的干膜,一經(jīng)曝光后即睜開聚合軟化,而耐得住碳酸鈉溶液(1%)的顯像沖洗,至于未感光的寡聚物則會被沖掉,而泛起遴選性“ 阻劑 "圖案,以便能再延續(xù)遏制蝕刻或電鍍。
35、Optical Density 光密度
在電路板制程中,是指棕色底片上“暗區(qū)"之阻光水平,或“明區(qū)"的透光 水平而言,淺顯以D示之。另外此詞的是透光度(Transmittance,T)。 此二種與“光"相關(guān)的素質(zhì),可用入射光(Incident Light,Ii)及顯閃現(xiàn)光(Transmitted light I) 兩參數(shù)表達以下,即: T=I/Ii--------------------(1) D=-log T------------------(2) 將(1)式代入(2)中可得: D=-log (I/Ii )-----------(3) 現(xiàn)將“光密度"(D),與“透光度"(T),及棕色底片“道德"三者之,列表清算于下:(上表中 Dmim暗示棕片明區(qū)的光密度;Dmax暗示暗區(qū)的光密度) 分娩線上所使用的棕色片 (Diazo),需按時以“光密度檢測儀"(見附圖)去遏制搜檢。一旦察覺道德不良時,應(yīng)即行交流棕片,以保證曝光應(yīng)有的水準。此點對防焊干膜的解像精度出格首要。 光密度 D T%透光度 棕片道德 -------- ---------- --------- 0.00 100.0 棕色片明區(qū) 0.10 79.4 的光密度 Dmim 0.15 70.8 應(yīng)低于 0.15 1.00 10.0 2.00 1.0 3.00 0.1 3.50 0.03 4.00 0.01 棕色片暗區(qū) 4.50 0.0065 的光密度 Dmax 5.00 0.001 應(yīng)高于 3.50
36、Oxygen Inhibitor氧氣抑止現(xiàn)象
曝光時干膜會領(lǐng)受紫外線中能量,激發(fā)本人配方中敏化劑(Sensitizer)的割裂,而成為活性*的“安閑基"(Free Radicals)。此等安閑基將再促使與其他單體、不含飽和樹脂、及已部份架橋的樹脂等遏制周全的“聚合反映"。此反映須而無氧在外形下才補救止,一旦接觸氧氣后其聚合反映將遭到抑止或攪擾而沒法完成,這類氧氣所飾演的腳色,即稱為“Oxygen Inhibitor"。這就是為什幺當板子在遏制其干膜曝光,和曝光后的停置時辰(Holding Time)內(nèi),都不克不及撕掉概略通明護膜(Mylar)的啟事了??墒窃跍y驗考試干膜之“正片式蓋孔法"(Tening)時,其鍍通孔中雖然也具有有氧氣,為了添加上述Indibitor現(xiàn)象對該孔區(qū)干膜后背(與通孔中氣氛之接觸面)的影響起見,可采納下述挽救編制:1.在強曝光之光源強度下,使頃刻發(fā)生更多的安閑基,以耗費領(lǐng)受掉鍍孔中有限的氧氣。且組成一層毛病,以防氧氣自后背的延續(xù)滲入滲出滲出。2.增加蓋孔干膜的厚度,使孔口“蒙皮"軟膜的背面部份,仍可在Mylar呵護下延續(xù)嘗試無氧之聚合反映。即使后背較為虧弱結(jié)實,在背面已充份聚合而抵達厚度下,仍耐得住短時辰的酸性噴蝕,而完成正片法的外層板(見附圖)。不外蓋孔法對“無孔環(huán)"(Landless)的高密度電路板,則只好“沒法度圭表標準圭表尺度"了。這類行進進步前輩第(High Eng)電路板,恍如僅剩“塞孔法"一途可行了。
37、Photofugitive感光褪色
軟膜阻劑的色估中,有一種非凡的添加物,會使已感光部份的色彩變淺,以便與未感光部份的原色有所辯白,使在分娩線上茍且分辯是不是已做過曝光,而不致弄錯再多曝光一次。與此詞對應(yīng)的還有感光后色彩加深者,稱者“Phototropic"。
38、Photoinitiator感光啟始劑
又稱為敏化劑Sensitizer,如昆類(Quinones)等染料,是干膜領(lǐng)受感光能量后首先睜開步履者。當此劑領(lǐng)遭到UV的欣喜后,即快速分化成為安閑基(Radicals),進而激起各式連鎖聚合反映,是干膜配方中要成份。
39、Photoresist Chemical Machinning(Milling)光阻式化學(銑刻)加工
用感光成像的編制,在薄片金屬上組成遴選性的兩面感光阻劑,再遏制雙面銑刻(鏤空式的蝕刻)以完成所需邃密紊亂的名堂,如積體電路之腳架、果菜機的主體濾心濾網(wǎng)等,皆可采PCM編制建筑。
40、Photoresist光阻
是指在電路板銅面上所附著感光成像的阻劑圖案,使能進一步嘗試遴選性的蝕刻或電鍍之使命。經(jīng)常使用者有干膜光阻及液態(tài)光阻。除電路板外,其他如微電子工業(yè)或PCM等也都需用到光阻劑。
41、Point Source Light點狀光源
當光源遠比被照體要小,而且小到極??;或光源與被照體相距極遠,則從光源到被照體概略就職何一點,其各光線之間幾近成為平行時,則該光源稱為“點狀光源“
42、Positive Acting Resist正性型光阻劑
有指有光阻的板面,在底片明區(qū)涵蓋下的阻層,遭到紫外光能的欣喜而發(fā)生“分化反映",并經(jīng)顯像液之沖洗而被“除去",只在板上決計留下“未感光"未分化之部份阻劑。這類因感光而分化的阻劑稱為“正性光阻劑",亦稱為Positive Working Resist。但凡這類“正性光阻"的原料要比負性光阻原料貴的良多,因其解像力很好,故淺顯多用于半導(dǎo)體方面的“晶圓"制造。比出處于電路板外層的細線路組成,逐漸有采取“正片法"的間接蝕刻(Print and Etch)流程,以儉仆工序及添加錫鉛的凈化。是以干膜蓋孔及油墨塞孔皆被試用過,前者對“無環(huán)"(Landless)或孔環(huán)太窄的板類,將遭到限制而良品率著落,后者油墨不單手續(xù)省事,且得勝率也很高。是以“正性的電著光阻"(Positive ED),就將應(yīng)運而生。今朝此法已在日本NEC公司上線量產(chǎn),因可在孔壁上組成呵護膜,故能間接遏制線路蝕刻,是極為行進進步前輩的做法。
43、Primary Image線路成像
此術(shù)語原用于網(wǎng)版印刷制程中,現(xiàn)亦用于干膜制程上,是指內(nèi)外層板之線路圖形,由底片上經(jīng)由干膜而轉(zhuǎn)移于板子銅面上,這類專做線路轉(zhuǎn)移的使命,則稱為“低級成像"或“主成像",以示與防焊干膜的辯白。
44、Radiometer輻射計,光度計
是一種可檢測板面上所受照的UV光或射線(Radiation)能量強度的儀器,可測知每平方公分面積中所取得光能量的焦耳數(shù)。此儀并可在高溫保送帶上使用,對電路板之UV曝光機及UV軟化機都可加以檢測,以保證作業(yè)之道德。
45、Refraction折射
光線在不合密度的介質(zhì) (Media)中,其行進速度會紛歧樣,是以在不合介質(zhì)的交壤面處,其行進標的手段將會點竄,也就是發(fā)生了“折射"。電路板之回憶轉(zhuǎn)移工程不管是采網(wǎng)印法、感光成像的干膜法,或槽液式ED法等,其各類通明載片、感光乳膠層、網(wǎng)布、版膜 (Stencil)等皆以不合的厚度合營成為轉(zhuǎn)移對象,故所得成像與真正設(shè)想者若干良多多少會有些差異,啟事之一就是來自光線的折射。
46、Refractive Index折射率
光在真空中遏制速度,除以光在某一介質(zhì)中的速度,其所得之比值即為該介質(zhì)的“折射率"。不外此數(shù)值會因入射光的波長、景象抽象溫度而有所不合。zui經(jīng)常使用的光源是以 20℃時“鈉燈"中之D線做為尺度入射光,暗示編制是 20/D。
47、Resist阻劑,阻膜
指欲遏制板面濕制程之遴選性部門蝕銅或電鍍措置前,應(yīng)在銅面上先做部門點綴之正片阻劑或負片阻劑,如網(wǎng)印油墨、干膜或電著光阻等,統(tǒng)稱為阻劑。
48、Resolution解像,解像度,解析度
指各類感光膜或網(wǎng)版印刷術(shù),在采納具有2 mil“線對"(Line-Pair)的非凡底片,及在有用光曝光與切確顯像 (Developing) 后,于其1 mm的長度中所能了了閃現(xiàn)zui多的“線對"數(shù),謂之“解像"或“解像力"。個中心謂“線對"是指“一條線寬合營一個間距",龐雜的說 Resolution 就是指回憶轉(zhuǎn)移后,在新翻制的子片上,其每公厘間所能取得精采的“線對數(shù)" (line-pairs/mm) 。陸地業(yè)界對此之譯語為“分辯率",普簡易稱的“解像"均很少觸及界說,只是一種斗勁性的說法而已。
49、Resolving Power解析力,解像力(分辯力)
指感光底片在其每mm之間,所能取得等寬等距(2 mil)解像精采的“線對"數(shù)目。但凡鹵化銀的吵嘴底片,在精采平行光及切確的母片下,約有 300 line-pair/mm 的解析力,而份子級偶氮棕片的解像力,則數(shù)倍于此。
50、Reverse Image負片氣像(阻劑)
指外層板面鍍二次銅(線路銅前,于銅面上所施加的負片干膜阻劑圖像,或(網(wǎng)印)負片油墨阻劑圖像而言。使在阻劑之外,決計空出的正片線路區(qū)域中,可遏制鍍銅及鍍錫鉛的操作。
51、Scum通明殘膜
是指干膜在顯像后,其未感光軟化之區(qū)域該當被*沖洗干凈,而閃現(xiàn)干凈的銅面以便遏制蝕刻或電鍍。若依然殘留有少許呈通明狀的干膜殘屑時,即稱之為Scum。此種漏洞錯誤對蝕刻制程會構(gòu)成各式的殘銅,對電鍍也將構(gòu)成部門針孔、一般或附出力不良等錯誤謬誤。搜檢法可用 5% 的氯化銅液(插足少許鹽酸)算作試劑,將干膜顯像后的板子浸于個中,在一分鐘之內(nèi)即可檢測出 Scum 的具有與否。因干凈的銅面會即刻反映而釀成暗灰色。但留有通明殘膜處,則將依然閃現(xiàn)鮮紅的銅色。
52、Side Wall側(cè)壁
在PCB工業(yè)中有兩種寄義,其一是指顯像后的干膜反面,從微觀上所看到是不是豎立的景象抽象;其二是指蝕刻后線路兩反面的豎立外形,或所發(fā)生的側(cè)蝕景象抽象若何,皆可由電子顯微鏡或微切片上得以了了查詢拜訪。
53、Soft Contact輕觸
光阻膜于曝光時,須將底片慎密壓貼在干膜或已軟化之濕膜概略,稱為 Hard Contact。若改采平行光曝光裝備時則可沒需求緊壓,稱為 Soft Contact。此“輕觸" 有別于高度平行光自動連線之非接觸(Off Contact)式駕空曝光。
54、Static Eliminator靜電消弭器
電路板系以無機樹脂為基材。常在制程中的某些磨刷使命時會發(fā)生靜電。故在清洗后,還須遏制除靜電的使命,才不致吸附塵埃及雜物。淺顯分娩線上均應(yīng)設(shè)置有各類除靜電拆卸。
55、Step Tablet階段式(光密度)曝光表
是一種窄長條型的軟性底片,按光密度(即遮光性)的不合,由淺到深做成階段式曝光嘗試用的底片,每“段格"中可透過不合的光量,然后,將之壓覆在干膜上,只需經(jīng)一次曝光即可以讓板邊狹長形各段格的干膜,取得不合水平的感光聚合反映,找出曝光與后續(xù)顯像(Developing)的各類對應(yīng)條件。是干膜制程的現(xiàn)場經(jīng)管對象,又稱為 Step Scale、 Step Wedge 等。經(jīng)常使用者有 Riston 17、Stouffer 21、 Riston 25、等各類“階段表"。
56、Tenting蓋孔法
是指把持干膜在外層板上做為抗蝕銅阻劑,遏制正片法流程,將可省去二次銅及鍍錫鉛的省事。此種連通孔也點綴的干膜施工法,稱為蓋孔法。這類蓋孔干膜猶如大鼓之上下兩片蒙皮淺顯,除可呵護孔壁不致受藥水報仇沖擊外,并也能護住上下兩板面待組成的孔環(huán)(Annular Ring)。本法是一種簡化適用的正片法,但對無環(huán)(Landless)有孔壁的板子則力所不及也。原文選詞開初并未想到鼓的“蒙皮",而只想到“帳棚",故知原文本已不夠傳神,而部份熟行人竟按其發(fā)音譯為“天頂法"其實匪夷所思不知所云。陸地業(yè)界之譯名是“粉飾法"及“孔粉飾法"。
57、Transmittance透光率
當入射光(Incident Light)抵達物體概略后,將泛起反射與透射兩種因應(yīng),其透光量與入射光量之比值稱為“透光率"。
58、Wet Lamination濕壓膜法
是在內(nèi)層板遏制干膜壓合的操作中,也同時在銅面上施加一層薄薄的水膜,讓“感光膜"吸水后發(fā)生更好的“流動性"(Flow)。對銅面上的各類一般,闡揚更深切的填平才調(diào),使感光阻劑具有更好的吻合性(Conformity),提升對細線路蝕刻的道德。而所泛起過剩的水膜在熱滾輪擠壓的頃刻,也快速被擠走。此種對無通孔全平銅面的新式加水壓膜法,稱為 Wet Lamination。PCM Photoresisted Chemical Machining; 光阻式化學加工(亦做Photoresist Chemical Milling光阻式化學銑鏤)是在金屬薄片(如不銹鋼)兩面施加光阻,再遏制部門性慎密蝕透鏤空之手藝。
JTONE系列光化學型號:JT-GHX-AC JT-GH?X-A JT-?GHX-DC J?TGHX-D JT-G?HX-BC J?T-GHX-B
參考資料:杭州聚同電子有限公司
微信掃一掃